精度1微米涂層測(cè)厚儀FMP30
涂層測(cè)厚儀FMP30
測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:
精度1微米涂層測(cè)厚儀FMP30可以選用磁性探頭與非磁性探頭,也就是電磁感應(yīng)原理與渦流感應(yīng)原理,高精度測(cè)試儀器,電磁感應(yīng)原理就是基體為
鐵等磁性基材,渦流感應(yīng)原理就是基材為鋁銅等非導(dǎo)電材料。
DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測(cè)厚儀適合于使用在不需要全部測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ),評(píng)估和輸出,但又需要在各種幾何外形和鍍層厚度范圍的測(cè)試工件上測(cè)量的情況下。配有不同種類的探頭以適應(yīng)各種應(yīng)用情況。探頭自動(dòng)識(shí)別。
二、FMP30 測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
三、可選 探頭:
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀常用渦流探頭:FTA3.3H,訂貨號(hào):604-142,測(cè)量范圍:0 - 1200 μm,測(cè)量精度:0~50μm,± 0.25μm;50~8000μm,± 0.5 %;800~1200μm,< 2.5%
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀常用磁性探頭:FGAB1.3,訂貨號(hào):604-141,測(cè)量范圍:0 - 2000 μm(45 mils)。測(cè)量精度:0~50μm,± 0.25μm;50~8000μm,± 0.5 %;800~1200μm,< 2.5%
四、FPM30操作方式:
儀器垂直向下測(cè)量
五、精度1微米涂層測(cè)厚儀FMP30測(cè)量的測(cè)量方式:
測(cè)量時(shí)
1、打開儀器
2、安裝電池,并打開電源。
3、調(diào)整儀器與探頭,并在基材上做歸零。
4、在樣品上測(cè)量。